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Groupe de Physique des Matériaux, Institut des Materiaux de Rouen
Realisation de pointes par micro manipulation in-situ d'echantillon semi-conducteur sur MEB (microscope electronique à balayage) à FIB (focused ion beam)
Auteur : Patrice Latron
©Patrice Latron Photographe
Dimensions Photo : 0.7 Mpixels (2 Mo décompressé) - 1024x681 pixels (8.7x5.8 cm / 3.4x2.3 pouces à 300 ppp)
Mots clés Photo : couleur, europe, france, interieur, laboratoire, patricelatron, photo, picture, recherche, science
Publié dans : Au coeur de la matière