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Groupe de Physique des Matériaux, Institut des Materiaux de Rouen
Chercheur controle alignement du laser d'une sonde atomique tomographique laser pour analyse de la distribution des atomes en 3D sur pointes echantillons de materiaux semi-conducteurs.
Auteur : Patrice Latron
©Patrice Latron Photographe
Dimensions Photo : 0.7 Mpixels (2 Mo décompressé) - 1024x681 pixels (8.7x5.8 cm / 3.4x2.3 pouces à 300 ppp)
Mots clés Photo : couleur, europe, france, interieur, laboratoire, patricelatron, photo, picture, recherche, science
Publié dans : Au coeur de la matière