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Diamant artificiel, service pour la microelectronique et les microsystemes à l'ESIEE de Paris
Salle blanche pour la caractérisation des weafer, contrôle de l'épaisseur des matériaux déposés sur le weafer
©Patrice Latron Photographe
Salle blanche pour la caractérisation des weafer, contrôle de l'épaisseur des matériaux déposés sur le weafer