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Groupe de Physique des Matériaux, Institut des Materiaux de Rouen
Realisation de pointes par micro manipulation in-situ d'echantillon semi-conducteur sur MEB (microscope electronique à balayage) à FIB (focused ion beam)
Realisation de pointes par micro manipulation in-situ d'echantillon semi-conducteur sur MEB (microscope electronique à balayage) à FIB (focused ion beam)